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實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備
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產(chǎn)品分類數(shù)碼型熔點(diǎn)測定儀 XPH-300D 一、用途 XPH-300系列偏光熔點(diǎn)測定儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化纖、半導(dǎo)體工業(yè)檢驗(yàn)等部門和相關(guān)高等院校高分子等專業(yè)Z常用的專業(yè)實(shí)驗(yàn)儀器。偏光熔點(diǎn)測定儀可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。
更新時(shí)間:2025-11-03
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電腦型熔點(diǎn)測定儀XPH-200E 一、用途 XPH-200系列偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質(zhì)進(jìn)行研究鑒定的*儀器。偏光顯微鏡在衛(wèi)生部門上有廣泛的用途,如觀察齒、骨、頭發(fā)及活細(xì)胞等的結(jié)晶內(nèi)含物,神經(jīng)纖維、動物肌肉、植物纖維等的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié),分析病變過程,偏光顯微鏡也可以觀察無機(jī)化學(xué)中各種鹽類的結(jié)晶狀況。
更新時(shí)間:2025-11-03
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XPL-900 高級透反射偏光顯微鏡 特點(diǎn): 1.偏光顯微鏡是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和高等院校、化工、醫(yī)療、藥品等領(lǐng)域的研究與檢驗(yàn)*儀器。 補(bǔ)償器:根據(jù)不同的觀察需要,可以適配一下三種不同的補(bǔ)償器。四分波長補(bǔ)償器(云母試板,光程差137nm),用來在線性偏光和環(huán)形偏光之間轉(zhuǎn)換。全波長補(bǔ)償器(石膏試板,光程差530nm).
更新時(shí)間:2025-11-03
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XTL-400 體視顯微鏡 * 大量現(xiàn)貨 一、儀器用途 電腦(數(shù)碼相機(jī))型連續(xù)變倍體視顯微鏡使用范圍相當(dāng)廣泛,它觀察物體時(shí)能產(chǎn)生正立的三維空間像,立體感強(qiáng),成像清晰和寬闊,具有較長的工作距離,并可根據(jù)觀察物的特點(diǎn)選用不同的反射和透射光照明,是適用范圍非常廣泛的常規(guī)顯微鏡。對同一物體可實(shí)現(xiàn)連續(xù)放大倍率觀看,可能直接電視機(jī)或電腦上觀察實(shí)物圖像。
更新時(shí)間:2025-11-03
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XTL-340 體視顯微鏡 大量現(xiàn)貨 一、儀器用途: XTL-340高清晰體視顯微鏡在觀察物體時(shí)能產(chǎn)生正立的三維空間影像。立體感強(qiáng),成像清晰和寬闊,又具有長工作距離,并是適用范圍非常廣泛的常規(guī)顯微鏡。立體顯微鏡操作方便、直觀、檢定效率高,適用于電子工業(yè)生產(chǎn)線的檢驗(yàn)
更新時(shí)間:2025-11-03
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