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單目阿貝折射儀2WAJ能測(cè)定透明、半透明液體或固體的折射率ND和平均色散NF-NC（其中以測(cè)透明液體為主體）。并能測(cè)出蔗糖溶液內(nèi)含糖量濃度的百分?jǐn)?shù)0-95%。適用于院校、科研單位、石油、油脂、制藥、制糖日用化工等工業(yè)部門。 單目阿貝折射儀2WAJ 北京現(xiàn)貨

雙目阿貝折射儀2W能測(cè)定透明、半透明液體或固體的折射率ND和平均色散NF-NC（其中以測(cè)透明液體為主體）。并能測(cè)出蔗糖溶液內(nèi)含糖量濃度的百分?jǐn)?shù)0-95%。適用于院校、科研單位、石油、油脂、制藥、制糖日用化工等工業(yè)部門。2W 雙目阿貝折射儀 北京現(xiàn)貨

葉輪式風(fēng)速計(jì) Fluke 925 北京現(xiàn)貨 產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 測(cè)量風(fēng)速：0.4至25.00米/秒，0.01米/秒 分辨率，精度±2% 測(cè)量風(fēng)溫：0至50 ℃，0.1 ℃分辨率，精度 ±0.8 ℃ 測(cè)量風(fēng)量：0.01至99.99立方米/秒，面積0至 9.999平方米，分辨率0.01

6JA 干涉顯微鏡 北京現(xiàn)貨 干涉顯微鏡6JA是用來測(cè)量精密加工零件（平面、圓柱等外表面）光潔度的儀器，也可以用來測(cè)量零件表面刻線，鍍層等深度。儀器配以各種附件，還能測(cè)量粒狀，加工紋路混亂的表面，低反射率的工件表面，同時(shí)還能將儀器安置在工件上，對(duì)大型工件表面進(jìn)行測(cè)量。儀器測(cè)量表面不平深度范圍為1～0.03微米，用測(cè)微目鏡和照相方法來評(píng)定▽10～▽14光潔度的表面。

XPV-300 礦相偏光顯微鏡 北京現(xiàn)貨 、儀器的用途： XPV-300系列礦相顯微鏡又稱巖礦顯微鏡、巖石顯微鏡，適合電子、冶金、化工和儀器儀表行業(yè)用于觀察透明、半透明或不透明的物質(zhì),如金屬陶瓷、集成塊、印刷電路板、液晶板、薄膜、纖維、鍍涂層以及其它非鑫屬材料。礦相顯微鏡也適合農(nóng)林、*、學(xué)校、科研部門作觀察分析用。礦相顯微鏡廣泛應(yīng)用于生物學(xué)